XRF (O SERIES)- BOWMAN

Origin: Amerika

Merek:

Category:

Seri O menggabungkan kinerja tinggi dan ukuran titik x-ray ultra-kecil (80μm FWHM) menggunakan optik poli-kapiler, yang memaksimalkan aliran x-ray untuk sensitivitas yang lebih tinggi dan pengujian yang lebih cepat pada komponen kecil atau pelapis tipis. Tidak seperti kolimator tradisional, sistem ini mempertahankan hampir 100% aliran tabung, memastikan pengulangan yang lebih baik dalam waktu pengujian yang lebih singkat. Ini dilengkapi dengan detektor SDD resolusi tinggi, pembesaran video 55x, zoom digital 7x, dan panggung X-Y yang dapat diprogram. Karena jarak fokusnya yang dekat, sampel harus rata. Sekarang tersedia dengan opsi panggung yang diperpanjang untuk fleksibilitas yang lebih besar.

MODEL: XRF O SERIES

SPECIFICATION

Eksitasi X-ray: 50 W W-target dengan Optik Kapiler @80µm FWHM pada 17 KeV
Detektor: Detektor silikon dengan jendela besar yang terdrift dengan resolusi 190eV atau lebih baik
Jumlah lapisan analisis dan elemen: 5 lapisan (4 lapisan + dasar) dan 10 elemen di setiap lapisan dengan analisis komposisi hingga 30 elemen secara bersamaan
Filter/Kolimator: 4 filter primer
Kedalaman Fokus Output: Tetap pada 0,1″ (2,54mm)
Pemrosesan Puls Digital: Analisa multi-saluran digital 4096 CH dengan waktu pembentukan yang fleksibel. Pemrosesan sinyal otomatis termasuk koreksi waktu mati dan koreksi puncak pelarian
Komputer: Prosesor desktop Intel CORE i5 generasi ke-9, hard drive solid state, 16GB RAM, Microsoft Windows 11 Professional 64bit setara
Optik Kamera: 1/4″ (6mm) CMOS-1280×720 resolusi VGA
Perbesaran Video: 55X Mikro dengan 7X Zoom digital
Catu Daya: 150W, 100-240 volt, dengan rentang frekuensi 47Hz hingga 63Hz
Lingkungan Kerja: 68°F (20°C) hingga 77°F (25°C) dan hingga 98% RH, tanpa kondensasi
Berat: 52-70kg
XY yang Dapat Diprogram: Ukuran meja: 330mm (13″) x 381mm (15″) | Perjalanan: 127mm (5″) x 152mm (6″)
Sekarang tersedia dengan opsi panggung yang diperpanjang atau ruang tertutup
Dimensi Internal: Tinggi: 140mm (5,5″), Lebar: 305mm (12″), Kedalaman: 330mm (13″)
Dimensi Eksternal: Tinggi: 457mm (18″), Lebar: 457mm (18″), Kedalaman: 610mm (24″)

PRODUCT VIEWED

DT 1000+ Tablet Disintegration Tester dirancang dengan dua wadah yang beroperasi secara independen, memungkinkan pengujian simultan dua jenis sampel yang berbeda untuk mengoptimalkan efisiensi dan waktu. Perangkat ini dilengkapi dengan fitur canggih seperti sensor suhu yang tepat, pencatatan waktu disintegrasi otomatis untuk setiap tablet, dan kemampuan untuk menyimpan hingga 20 metode, memastikan akurasi dan efektivitas dalam proses kontrol kualitas.

Seri A MICRO XRF dirancang untuk pengukuran presisi fitur X-ray terkecil dalam semikonduktor dan mikroelektronik. Sistem ini mendukung PCB besar dan wafer dengan ukuran apa pun, dengan sinar X FWHM 7,5 μm—yang terkecil di dunia untuk XRF. Sistem dual-kamera dengan perbesaran 140X menyediakan pencitraan detail, sementara panggung X-Y yang dapat diprogram bergerak hingga 600 mm dengan akurasi ±1 μm. Pengenalan pola, fokus otomatis, dan pemetaan 3D mengoptimalkan akurasi pengukuran.