Seri G XRF adalah pilihan ideal untuk laboratorium dan jalur produksi, terutama bagi pengguna dengan ruang kerja terbatas, keterbatasan anggaran, atau preferensi untuk operasi "dari bawah ke atas" dengan kontrol sumbu Z yang termotorisasi. Dirancang untuk menganalisis sampel kecil dengan cepat dan mudah, sistem ini menawarkan fleksibilitas dan kinerja tinggi dalam inspeksi dan evaluasi material.
Seri K adalah sistem XRF presisi tinggi yang dirancang untuk analisis sampel yang beragam, dilengkapi dengan area pengukuran besar 12″ x 12″, panggung X-Y yang dapat diprogram, dan auto multi-kolimator untuk ukuran titik yang fleksibel. Kameranya dengan fokus variabel (0,25″ hingga 3,5″) dan navigasi tampilan meja memungkinkan pengukuran yang mudah. Untuk fitur ultra-kecil, versi optik poli-kapiler menawarkan resolusi 15µm, panggung presisi tinggi (2µm), dan kamera dengan pembesaran 140x serta zoom digital. Dilengkapi dengan detektor SDD dan tabung X-ray tahan lama, sistem ini menjamin akurasi dan kepatuhan dengan ASTM B568, ISO 3497, dan IPC-4552.
Seri Bowman L adalah instrumen XRF serbaguna dengan ruang sampel besar (22″ x 24″ x 13″) dan perjalanan panggung X-Y 10″ x 10″. Alat ini dapat menampung bagian besar atau beberapa sampel sekaligus dan mencakup rakitan kolimator 4 posisi, kamera dengan fokus variabel, dan panggung X-Y yang dapat diprogram. Tinggi Z ruang adalah 10″ (atau 13″ tanpa panggung). Dilengkapi dengan detektor SDD dan tabung X-ray mikro-fokus tahan lama.
Seri M memberikan pengukuran ketebalan pelapisan berkinerja tinggi untuk fitur terkecil, menggunakan optik poli-kapiler canggih yang memfokuskan sinar x-ray hingga 7,5μm FWHM. Ini dilengkapi dengan kamera pembesaran tinggi 140x dengan zoom digital yang ditingkatkan, disandingkan dengan kamera makro sekunder untuk navigasi yang mudah. Panggung X-Y yang dapat diprogram dengan presisi tinggi memungkinkan pengukuran multi-titik, dengan pengenalan pola otomatis dan pemetaan 2D untuk analisis topografi permukaan. Konfigurasi standar menampilkan optik 15μm, detektor LSDD resolusi tinggi, dan panggung X-Y yang dapat diprogram. Karena jarak fokusnya yang dekat, sampel harus rata.
Seri O menggabungkan kinerja tinggi dan ukuran titik x-ray ultra-kecil (80μm FWHM) menggunakan optik poli-kapiler, yang memaksimalkan aliran x-ray untuk sensitivitas yang lebih tinggi dan pengujian yang lebih cepat pada komponen kecil atau pelapis tipis. Tidak seperti kolimator tradisional, sistem ini mempertahankan hampir 100% aliran tabung, memastikan pengulangan yang lebih baik dalam waktu pengujian yang lebih singkat. Ini dilengkapi dengan detektor SDD resolusi tinggi, pembesaran video 55x, zoom digital 7x, dan panggung X-Y yang dapat diprogram. Karena jarak fokusnya yang dekat, sampel harus rata. Sekarang tersedia dengan opsi panggung yang diperpanjang untuk fleksibilitas yang lebih besar.
Seri XRF P memungkinkan pengukuran berbagai ukuran, bentuk, dan jumlah sampel. Panggung X-Y yang dapat diprogram dengan presisi tinggi memudahkan operasi melalui perangkat lunak, memungkinkan pengguna untuk berpindah ke lokasi pengukuran dengan mouse atau membuat program pengukuran multi-titik dengan satu klik. Ini mengoptimalkan pengujian untuk area kritis dan volume sampel yang lebih besar. Konfigurasi standar mencakup rakitan kolimator 4 posisi, kamera dengan fokus variabel untuk mengukur area yang cekung, detektor SDD, dan tabung X-ray mikro-fokus tahan lama. Kolimator dan jarak fokus dapat disesuaikan untuk memenuhi aplikasi spesifik.