Nano 3D Optical Surface Profilometers SuperView W1-Lite – CHOTEST

Origin: Tiongkok

Merek:

Category: Tag:
Tags:

SuperView W1 Optical 3D Surface profilometer is an ideal instrument for sub-Nanometer measurement of various precision parts. Based on the principle of white light interference technology, combined with precision Z-direction scanning module and 3D modeling algorithm, it contactlessly scans the surface of the object then establish a 3D image for the surface. A serial of 2D, 3D parameters  reflecting surface quality of the object are obtained after XtremeVision software processes and analyzes the 3D image.   The SuperView W1 is a user-friendly precision optical instrument with powerful analysis functions for all kinds of surface form & roughness parameters. With unique light source it could measure various precision parts with both smooth and rough surface.

 

Parameters

Model No. W1-Ultra W1-Lite
Light source White LED
Video system 1024×1024
Objective Lens Standard: 10X(Optional: 2.5X, 5X, 20X, 50X, 100X)
Optical Zoom Standard: 0.5X
Optional: 0.375X, 0.75X,1X		 Standard: 0.5X
Optional: 0.375X, 0.75X
Standard Field of View 1.1×1.1mm 0.98×0.98 mm
Lens Turret Manual 3 holes turret
(Optional:  Motorized 5 holes turret)		 Motorized 5 holes turret
XY Object table Size 320x200mm 220x220mm
Moving Range 140x100mm 100x100mm
Load Capacity 10kg
Control Method Motorized
Tilt ±4° ±3°
Z Axis focusing Travel Range 100mm 50mm
Control Method Motorized
Z Stroke Scanning Range 10mm
Surface Form Repeatability*1 0.1nm
Roughness RMS Repeatability*2 0.005nm 0.01nm
Step Height Measurementy*3 Accuracy: 0.3%; Repeatability: 0.08%(1σ) Accuracy: 0.7% Repeatability: 0.1%(1σ)
Scanning Speed@0.1nm Resolution 8μm/s 1.85μm/s
Weight 140kg 50kg
Size(L*W*H) 700x800x900mm 500x400x700mm
Stage measurement Temperature 0°C~30°C, fuctuation <2°C/60min
Humidity  5%~95% RH, no condensation
Vibration VC-C or better
Software
Noise Evaluation*4		 3σ≤4nm
Compressed Air 0.6Mpa oil-free, water-free, 6mm diameter of hose
Power Supply AC100~240V, 50/60Hz, 4A, 200W
Other No strong magnetic field, No corrosive gas
Note:
*1 Use EPSl mode to measure Sa 0.2nm silicon wafer in the laboratory environment; Single stripe, 80um filter for full field of view
*2 Measure Sa 0.2nm silicon wafer in a laboratory environment according to the ISO 25178.
*3 Measure standard 5 μm steps height block in a laboratory environment according to the ISO 1060-1:2000
*4 When the software noise evaluation is 4nm≤3σ≤10nm, the Roughness RMS repeatability is revised down to 0.015nm, the Step height measurement accuracy is revised down to 0.7%, and the step height measurement repeatability is revised down to 0.12%; When the software noise evaluation is 3σ>10nm, the environment does not meet the requirement for usage of the equipment, and need to change the site.

 

Standard Parameters
ISO 4287-1997 P>rincipal section Roughness W>aviness
A>mplitude Pp, Pv ,Pz, Pc, Pt,Pa,Pq,Psk,Pku Rp, Rv ,Rz, Rc, Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku Wp, Wv ,Wz, Wc, Wt,Wa,Wq,Wsk,Wku
interval PSm,Pdq RSm,Rdq WSm,Wdq
S>ubstance Pmr,Pdc Rmr,Rdc,Rmr(Rz/4) Wmr,Wdc,Wmr(Wz/4)
Peak PPc RPc WPc
ISO 13565 ISO 13565-2 Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,Rpk,Rvk
ISO 12085 Roughness graph R,AR,R× ,Nr
W>aviness> graph W,AW,W×,Wte
Other graph Rke,Rpke,Rvke
AMSE >B46.1 2D Rt,Rp,Rv,Rz,Rpm,Rma×,Ra,Rq,Rsk,Rku,tp,Htp,Pc,Rda,Rdq,RSm,Wt
DIN EN ISO 4287-2010 Original profile Pa,Pq,Pp,Pv,Pz,Pc,Pt,PSk,PKu,PSm,PPc,Pdq,Pdc,Pmr,
Roughness Ra,Rq,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,RSk,RKu,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr,
W>aviness Wa,Wq,Wp,Wv,Wz,Wc,Wt,WSk,WKu,WSm,WPc,Wdq,Wdc,Wmr
JIS B0601-2013 Original profile Pa,Pq,Pp,Pv,Pz,Pc,Pt,PSk,PKu,PSm,PPc,Pdq,Pdc,Pmr,
Roughness Ra,Rq,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,RSk,RKu,RSm,Rdq,Rdc,Rmr
W>aviness Wa,Wq,Wp,Wv,Wz,Wc,Wt,WSk,WKu,WSm,WPc,Wdq,Wdc,Wmr
GBT 3505-2009 Original profile Pa,Pq,Pp,Pv,Pz,Pc,Pt,PSk,PKu,PSm,PPc,Pdq,Pdc,Pmr,
Roughness Ra,Rq,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,RSk,RKu,RSm,Rdq,Rdc,Rmr
W>aviness Wa,Wq,Wp,Wv,Wz,Wc,Wt,WSk,WKu,WSm,WPc,Wdq,Wdc,Wmr

 

※ Built-in ISO/ASME/EUR/GBT Standards of 2D, 3D parameters:

2D Parameters

Standard Parameters
ISO 4287-1997 P>rincipal section Roughness W>aviness
A>mplitude Pp, Pv ,Pz, Pc, Pt,Pa,Pq,Psk,Pku Rp, Rv ,Rz, Rc, Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku Wp, Wv ,Wz, Wc, Wt,Wa,Wq,Wsk,Wku
interval PSm,Pdq RSm,Rdq WSm,Wdq
S>ubstance Pmr,Pdc Rmr,Rdc,Rmr(Rz/4) Wmr,Wdc,Wmr(Wz/4)
Peak PPc RPc WPc
ISO 13565 ISO 13565-2 Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,Rpk,Rvk
ISO 12085 Roughness graph R,AR,R× ,Nr
W>aviness> graph W,AW,W×,Wte
Other graph Rke,Rpke,Rvke
AMSE >B46.1 2D Rt,Rp,Rv,Rz,Rpm,Rma×,Ra,Rq,Rsk,Rku,tp,Htp,Pc,Rda,Rdq,RSm,Wt
DIN EN ISO 4287-2010 Original profile Pa,Pq,Pp,Pv,Pz,Pc,Pt,PSk,PKu,PSm,PPc,Pdq,Pdc,Pmr,
Roughness Ra,Rq,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,RSk,RKu,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr,
W>aviness Wa,Wq,Wp,Wv,Wz,Wc,Wt,WSk,WKu,WSm,WPc,Wdq,Wdc,Wmr
JIS B0601-2013 Original profile Pa,Pq,Pp,Pv,Pz,Pc,Pt,PSk,PKu,PSm,PPc,Pdq,Pdc,Pmr,
Roughness Ra,Rq,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,RSk,RKu,RSm,Rdq,Rdc,Rmr
W>aviness Wa,Wq,Wp,Wv,Wz,Wc,Wt,WSk,WKu,WSm,WPc,Wdq,Wdc,Wmr
GBT 3505-2009 Original profile Pa,Pq,Pp,Pv,Pz,Pc,Pt,PSk,PKu,PSm,PPc,Pdq,Pdc,Pmr,
Roughness Ra,Rq,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,RSk,RKu,RSm,Rdq,Rdc,Rmr
W>aviness Wa,Wq,Wp,Wv,Wz,Wc,Wt,WSk,WKu,WSm,WPc,Wdq,Wdc,Wmr

3D Parameters

Standard Parameters
ISO 25178 Height Sq,Ssk,Sku,Sp,Sv,Sz,Sa
function Smr,Smc,S×p
Space Sal,Str,Std
Composite parameters Sdq,Sdr
Volume Vm,Vv,Vmp,Vmc,Vvc,Vvv
Form Spd,Spc,S10z,S5p,S5v,Sda,Sha,Sdv,Shv
Functional Sk,Spk,Svk,Smr1,Smr2,Spq,Svq,Smq
ISO 12781 Flatness FLTt,FLTp,FLTv,FLTq
EUR 15178N Amplitude Sa,Sq,Sz,Ssk,Sku,Sp,Sv,St
Space Str,Std,Sal
Composite parameters Sdq,Sds,Ssc,Sdr,Sfd
Area, Volume Smr,Sdc
Function Sk,Spk,Svk,Sr1,Sr2,Spq,Svq,Smq
Functional Sbi,Sci,Svi
EUR 16145 EN Amplitude SaSq,Sy,Sz,Ssk,Sku
Mixed parameters Ssc,Sdq
Functional Sbi,Sci
Space Sdsrw
Hardness Hs,Hvol
ASME B46.1 3D St,Sp,Sv,Sq,Sa,Ssk,Sku,SWt

Applications

It is used for measurement and analysis of surface roughness and profile of precision components from industries of semi-conductor, 3C Electronics, ultraprecise machining, optical machining, micro-nano materials, micro-electro-mechanical system.

Measurement and analysis for various products, components and materials`surface form and profile characteristics, such as flatness, roughness, waviness, appearance, surface defect, abrasion,corrosion, gap, hole, stage, curvature, deformation, etc.

3C Electronics_Sapphire crystal

3C Electronics _ Ink screen

Related products

Pengambil Sampel BioAerosol Profesional – MicronView

Mikrobiologi

Pengambil Sampel BioAerosol Profesional – MicronView

Sangat portabel, sampler udara mikroba berbasis impaksi Kecepatan aliran 28,3LPM, 100LPM, dan 200LPM dapat dipilih sebelumnya Dilengkapi dengan filter udara buang berkeefisiensi tinggi Mematuhi ISO 14981-1 dan memenuhi EU GMP Lampiran 1

Sistem Pemantauan BioAerosol - MicronView

Mikrobiologi

Sistem Pemantauan BioAerosol – MicronView

Sistem Pemantauan Bioaerosol (BAMS) dirancang untuk memenuhi standar manufaktur farmasi yang ketat sambil menyediakan data real-time untuk tindakan segera dan pencegahan kerugian besar.

KOTAK SARUNG TANGAN (KK-021AD) - KIYON

Glove Box

KOTAK SARUNG TANGAN (KK-021AD) – KIYON

Kotak sarung tangan dirancang untuk menyediakan ruang kerja yang tertutup rapat & sangat disesuaikan di bawah kontrol yang sangat ketat

DUAL BOD INCUBATORS - NEWTRONIC

Stabilitas Chamber

DUAL BOD INCUBATORS – NEWTRONIC

Inkubator BOD Ganda dirancang dengan dua kompartemen terpisah, memungkinkan operasi independen pada nilai suhu yang berbeda, cocok untuk aplikasi yang memerlukan kondisi simultan tetapi bervariasi.

COMBO REFRIGERATOR - NEWTRONIC

Stabilitas Chamber

COMBO REFRIGERATOR – NEWTRONIC

Combo Refrigerator dirancang untuk aplikasi yang memerlukan kontrol suhu yang tepat untuk zona suhu atas dan bawah. Dengan konstruksi yang kokoh dan teknologi canggih, peralatan ini ideal untuk berbagai aplikasi industri dan penelitian.

TABLET DISINTEGRATION TESTER - LABINDIA

Pemeriksaan Tablet & Kapsul

TABLET DISINTEGRATION TESTER – LABINDIA

DT 1000+ Tablet Disintegration Tester dirancang dengan dua wadah yang beroperasi secara independen, memungkinkan pengujian simultan dua jenis sampel yang berbeda untuk mengoptimalkan efisiensi dan waktu. Perangkat ini dilengkapi dengan fitur canggih seperti sensor suhu yang tepat, pencatatan waktu disintegrasi otomatis untuk setiap tablet, dan kemampuan untuk menyimpan hingga 20 metode, memastikan akurasi dan efektivitas dalam proses kontrol kualitas.

TH 12 SMART TABLET HARDNESS TESTER - LABINDIA

Pemeriksaan Tablet & Kapsul

TH 12 SMART TABLET HARDNESS TESTER – LABINDIA

TH 12 SMART 12-Position Tablet Hardness Tester tampil dengan layar sentuh resolusi tinggi 7 inci, perangkat lunak cerdas yang mematuhi 21 CFR Part 11, dan kemampuan untuk secara otomatis mengukur hingga 100 tablet dalam satu kali pengukuran, memberikan kinerja superior dibandingkan dengan model lainnya. Perangkat ini juga dilengkapi dengan fungsi penghentian otomatis untuk nilai di luar ambang batas, penyelarasan tablet otomatis, dan mata pisau pembersih untuk  lintasan pengukuran, sehingga memastikan akurasi dan efisiensi yang optimal.

Diffuser Tekanan Tinggi Dual-Mode (DHPD) - MicronView

Mikrobiologi

Diffuser Tekanan Tinggi Dual-Mode (DHPD) – MicronView

Dual-Mode-High-Pressure Diffuser (DHPD) dirancang untuk industri farmasi, makanan dan minuman, kosmetik, serta perangkat medis yang memerlukan standar kebersihan yang ketat.
DHPD dapat menjalankan dua mode pengambilan sampel, yang digunakan untuk pengambilan sampel mikroba dan pemantauan partikel pada gas terkompresi.

PRODUCT VIEWED

Flash Measuring Machine VX3500 – CHOTEST

Mesin Pengukur Flash Chotest VX3500 adalah sistem pengukuran optik tanpa kontak berpresisi tinggi yang dirancang untuk analisis dimensi secara cepat dan akurat pada komponen berukuran besar. Mesin ini sangat cocok untuk industri yang memerlukan inspeksi detail terhadap bagian-bagian seperti cetakan, komponen hasil injeksi, dan suku cadang mekanis presisi.

SUPERCRITICAL CO₂ EXTRACTION SYSTEM P-100-SUPEREX

Sistem ekstraksi CO₂ superkritis 50L dirancang untuk produksi industri dengan efisiensi tinggi dan otomatisasi penuh. Produk ini menonjol berkat kemampuan penggunaan ulang CO₂ yang efisien, kontrol tekanan dan suhu presisi yang terintegrasi, serta sistem pompa panas modern. Ini adalah solusi optimal untuk aplikasi ekstraksi profesional, yang memastikan efisiensi dan keandalan luar biasa.

SUPERCRITICAL CO₂ EXTRACTION SYSTEM F-500-SUPEREX

MODEL: F-500 SPESIFIKASI Kolom ekstraktor 500 ml Tekanan kerja hingga 345 Bar Suhu kerja hingga 70 °C Ekstraksi dengan mode aliran CO₂ kontinu (dinamis) Kontrol suhu dengan algoritma PID Kontrol tekanan digital otomatis penuh Pompa ko-solven opsional (10 ml/menit) Pemuatan sampel yang mudah Penggunaan keranjang kain sintetis untuk sampel padat Arah aliran dapat diubah untuk...

ALAT PENGUJI INTEGRITAS TUTUP WADAH – DACHTEST

Seri LEAKSCAN dari DACHTEST menawarkan rangkaian lengkap solusi Pengujian Integritas Penutupan Wadah (Container Closure Integrity Testing/CCIT) dengan metode pengurangan vakum dan pengurangan tekanan, sesuai standar USP <1207> dan ASTM F2338. Seri ini mencakup berbagai tingkat otomatisasi mulai dari manual (X, XP), semi-otomatis (V), hingga otomatis penuh (Lab+), dirancang khusus untuk industri farmasi dan biofarmasi guna memastikan deteksi kebocoran yang non-destruktif dan sangat presisi pada vial, ampul, kantung infus, syringe isi ulang (PFS), serta sistem sekali pakai.  

SUPERCRITICAL CO₂ EXTRACTION SYSTEM P-20-SUPEREX

Sistem ekstraksi CO₂ superkritis P-20 menawarkan solusi ekstraksi optimal untuk sektor industri. Sistem kolom ekstraksi modern ini menggabungkan kinerja luar biasa dengan teknologi canggih. Dilengkapi dengan desain cerdas dengan kontrol suhu dan tekanan otomatis, serta sistem daur ulang CO₂ yang mencapai efisiensi hingga 95%, membantu mengurangi biaya operasional dan melindungi lingkungan. Dengan kecepatan pemrosesan yang cepat dan pengoperasian sepenuhnya otomatis, sistem ini merupakan pilihan sempurna bagi bisnis yang ingin meningkatkan efisiensi produksi dan mengoptimalkan kualitas produk.